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二氧化硅含量
来源:鲍勃体育下载   上传时间:2024-02-05 20:44:05

  游离二氧化硅粉尘俗称矽尘,是工业界广泛存在的职业有害因素,长期接触矽尘引起的矽肺是最我国目前最为严重的职业病,据2006年卫生统计报告,我国累积矽肺患者约为尘肺的半数,大约30余万例。矽肺是尘肺中最严重、最多见、报告最早、研究最多、病理改变基本清楚的一种尘肺,而且也是我国乃至全球发病率和死亡率最高的一种尘肺病。矽尘的准确识别和检测是矽肺病预防与控制的重中之重。因此,分析粉尘中的游离二氧化硅含量成为疾病预防与职业卫生监测工作的重要工作内容之一。根据中华人民共和国国家职业卫生标准GBZ/T192.42007《工作场所空气中粉尘测定第4部分:游离二氧化硅含量》,工作场所空气中粉尘游离二氧化硅含量的测定方法有三种,第一法是焦磷酸法,第二法是红外光谱法,第三法是X线衍射法。焦磷酸法为手工称重操作,对实验人员的操作水平要求比较高,且实验繁琐。而且据《中华职业医学》和国外有关文献中指出:矽肺是长期吸入结晶型游离二氧化硅造成的。第二法是红外光谱法,其原理是利用α-石英(结晶型)在红外光谱中于12.5μm(800cm-1)、12.8μm(780cm-1)及14.4μm(694cm-1)处出现特异性强的吸收带,在一些范围内,其吸光度值与α-石英质量成线性关系,经过测量其吸光度进行定量测定。当待测物是结晶型二氧化硅时(如石英粉尘),两种方法测定的结果是一致的,但是当待测粉尘不是或不完全是结晶型二氧化硅时,焦磷酸法测得的粉尘中二氧化硅结果就会高于红外光谱法。不同浓度的α-石英光谱图标准曲线的建立布鲁克多款型号的红外光谱仪满足国标对游离二氧化硅的检验测试要求。布鲁克专利的永久准直的ROCKSOLIDTM干涉仪,采用镀金双立方角镜技术,保证了红外光谱仪具有业界最佳的光效能和灵敏度,从而确保光谱仪可以在各种各样的环境条件下获得准确可靠的红外光谱数据。将游离二氧化硅含量分析简单到一键化操作,结果直接公式即得,快速缩短了分析时间和简化了实验流程。ALPHAII傅立叶变换红外光谱仪INVENIO傅立叶变换红外光谱仪如您对该应用技术感兴趣,欢迎拨打布鲁克光谱400热线。

  二氧化硅材料领域正处于产业转型的加快速度进行发展期,这个传统支柱行业,如今仍在峥嵘发展、求新求变。新兴领域的迅速增加,创新产品的出现,不断引领市场风潮,各领域的企业及专家学者们通过对传统技术优化、传统应用升级,以及新技术、新应用的创新突破,推动着二氧化硅产业迸发出新的生命力。7月9-10日,丹东百特参加了由粉体圈在湖南长沙举办的“2021年全国二氧化硅材料技术创新与高端应用交流会”。在本次会议中,丹东百特产品总监宁辉博士做了《光散射技术在氧化硅材料表征中的应用》的报告。宁博士在报告中分别介绍了针对不同颗粒大小和理化指标的几种常用检测的新方法,及相应的技术原理、检测特点和适用情况,着重讲解了zeta电位对悬浮液体系的影响和用电泳光散射法检测zeta电位的检测原理。宁博士专业的报告赢得现场阵阵热烈的掌声。在仪器展示区,丹东百特展出了Bettersize2600激光粒度分布仪和BeNano90Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪。Bettesize2600激光粒度分布仪采用正反傅里叶技术,量程达到0.02-2600μm,高精度的数据采集与处理系统使测试结果达到同类进口仪器水平,它还具有一键式SOP智能化操作,十分钟就可以学会操作流程。BeNano90Zeta是丹东百特历时多年研究,凝聚校企科研力量,全新打造的新一代纳米粒度及Zeta电位分析仪。它集成了动态光散射、静态光散射和电泳光散射三种技术于一体,既能测量颗粒的粒度和Zeta电位,又能测量聚合物的分子量。作为表征纳米颗粒的高端光学测量仪器,BeNano90Zeta在药物及药物释放体系、生命科学和生物制药、油漆油墨和涂料、食品和饮料、纳米材料以及学术领域中有广泛的用途,其应用场景范围涵盖多肽、抗原、抗体、脂质体、水凝胶、微乳液、乳液、高分子溶液、蛋白质样品、纳米金属/非金属颗粒等等。综合各方表现,BeNano90Zeta可以堪称是一款“精确,智能,让人信服”的全新纳米粒度及Zeta电位分析仪。经过26年持续创新和诚信经营,丹东百特发展成为业界知名的粒度粒形仪器和技术提供商。百特稳扎稳打,砥砺前行,凭借高端的品质和完善的服务在粒度测试仪器行业深耕细作。截止2020年,百特仪器的国内外市场保有量超过20000台,是世界粒度粒形仪器市场保有量最多的品牌之一,并斩获各种国内外专业级认证,其中包含71项专利,21项软件著作权,ISO9001,CE和FDA21CFRPar11等等。未来百特将继续为新老客户提供更优质的产品和服务,为实现“打造精品仪器,争创国际大品牌”的目标奋发前行。

  使用 Thermo Scientific&trade Orion&trade 8030cX 二氧化硅分析仪自信地进行二氧化硅分析。Orion 8030cX 旨在提供准确、毫不费力的的水分析,专门用于在线测量活性二氧化硅。Orion 8030cX 使用先进的比色技术,可提供卓越的精度、更高的生产力和更强的耐用性。Orion 8030cX 支持超纯水和工艺用水应用,可方便地提供精确、可靠、让人信服的测量结果。释放各种可能性,获享快速、自信决策的自由。结果可靠低检测限 (0.5 ppb)准确度高(在 0-500 ppb 范围内,≤1 ppb 或 1%)已获专利的液体输送和定量系统减少的磷酸盐干扰 低廉的拥有成本可连续运行100天(在含有 2L 试剂且测量频率为15分钟的情况下)试剂用量少(每次测量需 200 μL)分开的化学废液收集(减低了处置费用) 易于使用自动校准自动确认与验证带直观界面的彩色触摸屏 最长运行时间自动清洁预定式的测量警报通知系统报警系统(附带故障排除指南)经 IP65 认证(防溅/防尘)市场在以下产业监测超纯水、软化水、去离子水、锅炉水和蒸汽冷凝水中的二氧化硅:发电石油与天然气化工生产半导体制造纸浆与纸张应用监测和控制超纯水和工业工艺用水中的二氧化硅含量,以便:防止二氧化硅在涡轮叶片、热交换器、锅炉等部件上积聚减少昂贵且耗时的清洁程序识别反渗透 (RO) 分解和离子交换树脂饱和最大限度地提高蒸汽通道的热效率通过降低涡轮机振动的可能性来保障工厂关键设备的正常功能

  Orion 8030cX 二氧化硅分析仪Thermo ScientificTM Orion 8030cX 在线二氧化硅分析仪根据杂多钼蓝比色法原理自动测量二氧化硅浓度,准确、可靠且重现性好。Orion 8030cX 二氧化硅分析仪采用最先进的专利工业设计,具有直观的触摸屏用户界面和抗干扰测量过程,可用在所有应用,以满足过程控制要求。该分析仪作为Thermo ScientificTM Orion 8000 系列分析仪平台的一部分同一界面适用于多个参数。Orion 8030cX 分析仪性能优越可靠,设置简单,只需少量维护。市场电力石油和天然气工业净水化学半导体纸浆和造纸应用脱矿质剂锅炉RO出水混床出水概述二氧化硅是用于检测、控制和最好能够降低涡轮机、换热器和锅炉结垢的一种关键度量。在线实时测量活性二氧化硅可尽可能降低因结垢而产生的维修/更换成本,实现安全高效的长时间运行,这款在线二氧化硅分析仪可用于对二氧化硅超标的生产用水的去除或回收进行即时或自动的决策。连续实时二氧化硅监测可快速通知离子交换树脂的RO穿透或饱和情况,从而使系统效率最大化,最好能够降低维修停机时间。Orion 8030cX 在线二氧化硅分析仪可配置为在二氧化硅峰值出现时发送警告/警报或测量数据来警告用户,触发纠正措施,防止下游出现一些明显的异常问题。优点1. 8030cX二氧化硅分析仪具有一流的准确度、检测限和可靠性,可满足过程控制和监测要求。2. 自动量程切换功能(0-5000 μg/L)可在整个量程内确保数据有效性与准确度。3. 专利流路系统模块设计和优化化学试剂可确保较低的LOD,并减少磷酸盐干扰。4. 先进软件功能包括自动校准、自动验证、按设定时间间隔自动测量、自动清洁、警告、警报和系统诊断功能。这些自动功能可减少手动干预和维护需求。5. 由于试剂消耗量少,维护需求低,因此运行成本较低。只需每100天更换一次试剂。6. 直观图形触摸屏界面非常容易理解,与智能手机操作类似。7. 该分析仪紧凑、稳健,已在各种发电厂和工业超纯水厂中成功进行案例研究。8. 外壳防护等级达IP65,核心部件经全面测试且寿命较长,可确保长期稳定运行。订购信息

  仪器简介符合国家标准《GB/T12149-2017工业循环冷却水和锅炉用水中硅的测定》功能特点1) 进口冷光源,窄带干涉技术,光源耐久稳定,检验测试的数据浓度直读2) 3.5吋彩色屏幕界面清晰美观,表盘式UI检测界面,浓度直读3) 检测系统升级,一键检测出值,交互逻辑简单清晰4) 5条内置曲线,支持曲线校准,符合科研院校要求,适应任何检测环境5) 支持光学校准,保障发光强度,提升仪器精准度、稳定性,延长常规使用的寿命6) 内置测量上限,超限直观显示,表盘显示检测上限值,超限红色提示技术参数仪器名称便操式二氧化硅测定仅仪器型号LH-P3SI测量范围(0.05-32)mg/L(分段)存储数据5000光学稳定性≤0.005A/20min准确度≤±10%重复性≤±3%曲线Kg数据传输USB Type-C接口显示屏3.5时彩色液晶显示屏操作界面中文比色方式φ16mm比色管打印机便携式蓝牙热敏打印机(选配)环境湿度相对湿度≤85%RH(无冷凝)环境和温度(5-40)℃标称电压3.7V锂电池和5V电源适配器额定功率0.5W

  粉尘中游离二氧化硅对人体的伤害极大,是引发矽肺病的重要的因素之一,同时游离二氧化硅含量也是评价粉尘危害性质的主要指标。空气粉尘中游离二氧化硅的检测的新方法主要有焦磷酸法、红外分光光度法、X 射线衍射法,本文主要介绍焦磷酸法测定粉尘中游离二氧化硅含量的操作步骤。

  本次实验主要检验测试高岭土中二氧化硅含量,使用设备:iCAN 9 傅立叶红外光谱仪 透射附件。测试方法:分辨率 4cm-1,光谱扫描次数 32 次。黏土中的二氧化硅.选取相应的标样绘制标准曲线,采用红外光谱法,以一定浓度的二氧化硅标准物质做参比绘制工作曲线,降低测定误差,该法不仅大大降低了基体效应的影响,且相对标准偏差,具有样品处理简便,快捷,测试线性范围宽,重现性好,结果准确,可靠等优点.经一级标准物质验证,测定结果与推荐值相符,满足地质矿产实验室测试质量管理规范的要求,能够适用于高岭土,黏土中硅的测定.

  根据中华人民共和国国家职业卫生标准《工作场所空气中粉尘测定 第4部分:游离二氧化硅含量》GBZ/T192.4-2007,游离二氧化硅测定有三种方法分别为:焦磷酸法、X线衍射法、红外分光光度法。其中焦磷酸法是检测游离二氧化硅最佳分析方法该方法检测稳定、预处理简便、准确度高、干扰少;对于质控样品考核及样品检测准确度高。我公司和国内知名疾控中心经过多年研发验证推出全自动游离二氧化硅预处理仪。

  GB∕T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T366552018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T36655-2018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T366552018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T 366552018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T366552018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T36655-2018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T 366552018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T366552018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 GB∕T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法

  二氧化硅测定仪/便携二氧化硅测定仪/二氧化硅检测仪型号:仪器特点:1、检测速度5-10分钟2、一次性专用试剂盒3、直接显示样品检测结果4、可现场定量检测出水质中二氧化硅的含量技术指标:测定下限:0.5mg/L测定范围:0.0——20mg/L测量精度:5%

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  特性○阶跃折射率○数值孔径: 0.66○全接受光锥:82.6度○紫外-可见光-近红外传输○FUS:高-OH二氧化硅芯,特氟龙® AF包层○FLU:低-OH二氧化硅芯,特氟龙® AF包层○推荐使用硅酮或丙烯酸盐缓冲层○可选用FEP/ETFE护套○运行温度– 10oC 至+160 oC○可消毒○验证测试可达100kpsi○尺寸及组件可定制该光纤配置适用于需要纯合成熔凝二氧化硅芯光纤且具有超高数值孔径的用户。Polymicro 生产的此种光纤可配 备多种缓冲层和/或护套。纤芯尺寸范围为125μm至760μm 以上。该光纤兼具超高数值孔径,高强度及宽带光谱传输等特性。因其可见光光谱保真度高(源色不变黄),所以它是硼硅酸盐光纤的最佳替代品(硼硅酸盐光纤要求白光)。

  用分光光度计测定二氧化硅含量,在标准曲线ug/mL,怎么计算出二氧化硅含量(%),这个公式看不懂呀,求助各位大佬

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